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晶振的测试电路
Crystal test circuit

时间:2007-12-31 3:46:18 来源:未知 作者:未知 编辑: 【关闭


晶振的测试电路,Crystal test circuit

关键字:晶振测试器

利用简单几个元件制作一个可测量10kHz-100MHz晶振的测试电路(电路如图),BG1和所接多频振荡器,经C3、D1、D2进行检波后可在LED上得到下正上负的电压,驱动LED发光。 若晶振已坏,LED不亮。可将此小电路安装在维修用的电源上,留两个插测晶振元件的小孔。

制作中应注意:晶振的两条引出线不能相距过近,否则振荡幅度大大减小导致发光管不亮。

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